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          反射式膜厚儀的測試原理和技術功能說明

          發布時間:2021-06-23   點擊次數:253次
            反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜,手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR-100S可用于測量2納米到3000微米的膜厚,測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下,A3-SR-100S還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um
            反射式膜厚儀測量系統利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
            反射式膜厚儀的技術功能:
            微電腦控制系統,大液晶顯示、PLC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數據查看。
            嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制。
            測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差。
            支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇。
            系統自動進樣,進樣步距、測量點數和進樣速度等相關參數均可由用戶自行設定。
            實時顯示測量結果的較小值、平均值以及標準偏差等分析數據,方便用戶進行判斷。
            配置標準量塊用于系統標定,保證測試的精度和數據一致性。
            系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結果。
            標準的USB接口,便于系統與電腦的外部連接和數據。
          蘇州瑞格譜光電科技有限公司

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